Патенты и НОУ-ХАУ

ПАТЕНТЫ

НОУ-ХАУ

  • Алгоритм управления автоматизированной оснасткой системы неразрушающего контроля методом ультразвуковой дефектометрии изделий из ПКМ
  • Методика проведения операции неразрушающего контроля изделий из ПКМ методом лазерной ультразвуковой дефектометрии
  • Методика написания управляющих программ автоматизированной оснастки системы неразрушающего контроля методом ультразвуковой дефектометрии изделий из ПКМ
  • Разработка системы помощи принятия решений при анализе изделий из ПКМ методом неразрушающего контроля

Для получения дополнительной информации по патентам и НОУ-ХАУ сделайте запрос с указанием ФИО (полностью), название организации, должности, телефона и e-mail на адрес bmstu@emtc.ru