Патенты и НОУ-ХАУ
ПАТЕНТЫ
НОУ-ХАУ
- Алгоритм управления автоматизированной оснасткой системы неразрушающего контроля методом ультразвуковой дефектометрии изделий из ПКМ
- Методика проведения операции неразрушающего контроля изделий из ПКМ методом лазерной ультразвуковой дефектометрии
- Методика написания управляющих программ автоматизированной оснастки системы неразрушающего контроля методом ультразвуковой дефектометрии изделий из ПКМ
- Разработка системы помощи принятия решений при анализе изделий из ПКМ методом неразрушающего контроля
Для получения дополнительной информации по патентам и НОУ-ХАУ сделайте запрос с указанием ФИО (полностью), название организации, должности, телефона и e-mail на адрес bmstu@emtc.ru